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技术支持:在使用VPI镀膜仪进行样品镀膜制备时的膜厚溅射“厚度”预估方式和计算
来源: | 作者:VPI_ZTT | 发布时间: 2024-10-22 | 215 次浏览 | 分享到:
在材料科学和工程领域,薄膜的制备是关键步骤之一。准确控制薄膜的厚度对于确保产品性能和质量至关重要。本文将介绍在使用VPI系列镀膜仪进行样品镀膜制备时,如何预估膜厚以及具体的计算逻辑,帮助科研人员和工程师提高实验效率和结果可靠性。

 

目标:

- 需要膜厚`d = 100 nm`

 

计算所需溅射时间:

t = d / R = 100 nm / 5 nm/min = 20分钟

 

结论:

在相同的溅射条件下,溅射20分钟可获得100 nm的膜厚。

 

 

VPI博远微朗的专业镀膜解决方案

 

VPI博远微朗(www.vpichina.com)专注于提供先进的镀膜设备和技术支持,帮助客户实现高精度的膜厚控制。

- 高精度设备:我们的镀膜仪配备了先进的溅射源和精密的控制系统,确保溅射速率稳定。

- 实时监测:支持QCM和光学监测等多种实时膜厚监测手段。

- 专业支持:提供全面的技术培训和售后服务,帮助客户掌握膜厚预估和计算方法。

 

准确预估和控制膜厚是高质量薄膜制备的关键。通过掌握溅射速率法、QCM法和光学监测法等预估方式,以及相关的计算逻辑,可以有效提高镀膜过程的可控性。VPI博远微朗致力于为客户提供最优质的镀膜解决方案,期待与您携手共进,推动行业创新发展。