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SEM,TEM,FESEM 有什么不同?
来源: | 作者:vpichina | 发布时间: 2023-03-03 | 820 次浏览 | 分享到:
SEM,TEM,FESEM 有什么不同?

SEMTEMFESEM有什么不同

 

在材料科学领域,了解材料的微观结构和形态特征至关重要。显微镜在这方面发挥了重要的作用,随着技术的进步,各种类型的显微镜被开发出来。其中,扫描电子显微镜(SEM)、透射电子显微镜(TEM)和场发射扫描电子显微镜(FESEM)是应用最广泛的技术。虽然这些技术有相似之处,但它们在操作原理、分辨率和样品制备要求等方面有所不同。本文旨在对这些技术、原理及其应用进行全面概述。

 

扫描电子显微镜(SEM)

扫描电子显微镜(Scanning electron microscopySEM)是一种广泛应用的材料表面成像技术。SEM的工作原理是在样品表面扫描聚焦电子束,并检测从样品中发射的二次电子。二次电子被探测器探测到,探测器将信号转换成图像。扫描电镜(SEM)是一种无损成像技术,可以提供广泛材料表面的高分辨率图像,包括金属、陶瓷、聚合物和生物材料。

SEM在高真空条件下工作,样品需要导电或涂上导电材料,如金或碳。SEM中使用的电子束具有较高的能量,通常在5 ~ 30 keV之间,这允许更深入地渗透到样品中。SEM的分辨率取决于几个因素,包括电子束的能量、电子点的大小以及样品与探测器之间的距离。SEM的典型分辨率在几纳米到几十纳米的范围内。

SEM所产生的图像可以提供样品表面形貌、形貌和成分的信息。除了成像,SEM还可以用于元素分析,使用能量色散x射线能谱(EDS)或波长色散x射线能谱(WDS)EDSWDS是用来确定样品元素组成的技术,通过测量当样品被高能电子束轰击时发出的x射线。

 

透射电子显微镜(TEM)

透射电子显微镜(TEM)是一种高分辨率成像材料微观结构的有力技术。TEM的工作原理是将聚焦电子束通过薄样品,并检测通过样品的电子。通过样品的电子被聚焦到荧光屏或探测器上,从而产生图像。

TEM在高真空条件下工作,样品需要足够薄才能让电子通过。用于TEM的样品制备需要将样品细化到几个纳米的厚度,使用离子铣削、化学蚀刻或机械抛光等技术。TEM可以提供多种材料微观结构的高分辨率图像,包括金属、陶瓷、聚合物和生物材料。

TEM的分辨率是由电子束中使用的电子的波长决定的。电子的波长比可见光的波长短得多,可以实现更高分辨率的成像。TEM的典型分辨率在0.1纳米到几纳米的范围内。

TEM所产生的图像可以提供样品微观结构、晶体结构和缺陷的信息。除了成像,TEM还可以用于元素分析,使用能量色散